• Microscópio de Barrido FEG – SEM Quanta 200
• Microscópio de Barrido FEG – SEM Scios2

Ambos equipos están inscriptos dentro del Sistema Nacional de Microscopía, una iniciativa del Ministerio de Ciencia, Tecnología e Innovación Productiva conjuntamente con el Consejo Interinstitucional de Ciencia y Tecnología (CICyT) enmarcada dentro del Programa de Grandes Instrumentos y Bases de Datos.

Microscópio de Barrido FEG – SEM Quanta 200

Microscópio de Barrido FEG – SEM Quanta 200:

• Emisor de tipo FEG para haz de electrones altamente colimado, con estabilidad y corriente adecuadas para altas magnificaciones.
• Modo de trabajo en alto y bajo vacío y modo ambiental, adecuado para muestras húmedas
• Detectores de Electrones Secundarios (SE) para análisis topográfico, Electrones Retrodifundidos (BSE) optimizado para contrastes de fases y FWD para detalles topográficos de superficie
• Espectrometría por Dispersión de Energía de Rayos X (EDS) para microanálisis elemental cuali y cuantitativo, mapeos e histogramas de composición.
• Difracción de Electrones Retrodispersados (EBSD) para determinación de orientaciones cristalográficas y microestructura, análisis de textura localizados, caracterización de bordes de grano y parámetros de deformación.

Microscópio de Barrido FEG – SEM Scios2

• Emisor de tipo FEG para haz de electrones altamente colimado, con estabilidad y corriente adecuadas para altas magnificaciones.
• Emisor FEG – FIB de doble haz (electrones + iones focalizados) para examen de estructura interna del material, fabricación de muestras ultrafinas y desarrollo de cortes de precisión nanométrica que permiten la reconstrucción tridimensional de estructuras.
• Detectores de Electrones Secundarios (SE) para análisis topográfico a muy bajas energía adecuado para observaciones topográficas en material biológico

Ambos equipos están inscriptos dentro del Sistema Nacional de Microscopía, una iniciativa del Ministerio de Ciencia, Tecnología e Innovación Productiva conjuntamente con el Consejo Interinstitucional de Ciencia y Tecnología (CICyT) enmarcada dentro del Programa de Grandes Instrumentos y Bases de Datos.

• Microscopia electrónica de barrido: imágenes 
• Análisis cuali- y cuantitativo de composición sobre datos obtenidos por  medio de técnicas espectroscópicas en materiales metálicos, cerámicos,  biológicos (EDS) 
• Obtención y análisis de datos de microestructura y textura local usando  difractometría por electrones de alta energía (EBSD) 
• Servicio de secado por punto crítico de material biológico hidratado en  su estado natural. 
• Servicio de preparación de muestras metálicas y cerámicas para  microscopías y difractometría 

Si desea hacer consultas o solicitar asesoría técnica para algunos de los servicios mencionados contáctenos: lab.sem@rosario-conicet.gov.ar

El contacto previo es indispensable para realizar la pre evaluación de factibilidad técnica del servicio, los requerimientos de seguridad y la adecuación a las normas de trabajo del laboratorio.

Dr. Jorge Malarría  (IFIR, CONICET – UNR)

Dra. María Victoria Busi   (CEFOBI,  CONICET – UNR)

Dr. María del Lujan Alvarez (IFISE, CONICET – UNR)

Dr. Diego Omar Serra (IBR, CONICET – UNR)

Investigadores asociados a la plataforma:
Dra. Martina Avalos (IFIR, CONICET – UNR)
Dra. Natalia De Vincentis (IFIR)CONICET – UNR)

Personal CPA de la plataforma:
Lic. Vanina Tartalini (UAT-ROSARIO, CONICET)
BioIng. Pablo Risso (UAT-ROSARIO, CONICET)

Personal CPA asociado a la plataforma:
Téc. Pablo Diaz (IFIR, CONICET – UNR)

lab.sem@rosario-conicet.gov.ar